自動登錄失敗收集

在調試測試時，總是需要一組日誌來取得故障和被測設備的基本情況。資料來源包括：Logcat、Tradefed 主機日誌、螢幕截圖等。

為了讓任何測試編寫者都能通用且輕鬆地取得這些日誌，Tradefed 有一個內建機制來幫助收集它們。

配置

要自動收集一些失敗日誌，您可以將以下選項新增至 Tradefed 命令列：

--auto-collect LOGCAT_ON_FAILURE
or
--auto-collect SCREENSHOT_ON_FAILURE

若要查看可能值的完整列表，請查看AutoLogCollector

為了方便起見，logcat 和 snapshot 都有一個直接標誌：

--logcat-on-failure
and
--screenshot-on-failure

關於套件模組的註解 (AndroidTest.xml)

模組無法在AndroidTest.xml中直接指定此選項，但可以使用模組控制器。