自动登录失败收集

在调试测试时，总是需要一组日志来了解故障和被测设备的基本情况。来源包括：Logcat、Tradefed 主机日志、截图等。

为了让任何测试编写者都能轻松地获取这些日志，Tradefed 有一个内置机制来帮助收集它们。

配置

要在失败时自动收集一些日志，您可以在 Tradefed 命令行中添加以下选项：

--auto-collect LOGCAT_ON_FAILURE
or
--auto-collect SCREENSHOT_ON_FAILURE

要查看可能值的完整列表，请查看AutoLogCollector

为方便起见，logcat 和 screenshot 都有一个直接标志：

--logcat-on-failure
and
--screenshot-on-failure

套件模块注意事项 (AndroidTest.xml)

模块不能在AndroidTest.xml中直接指定此选项，但它们可以使用模块控制器。