用於 HAL 測試的參數化 gtest

對於 HAL 接口，可能有多種實作。要測試 HAL 實作的每個實例，標準方法是編寫值參數化的 gtest 。

基本測試設定

gtest必須繼承基底類別testing::TestWithParam ，其中參數是每個實例的名稱。在SetUp方法中，可以根據實例名稱實例化服務，如下列程式碼片段所示。

// The main test class for the USB hidl HAL
class UsbHidlTest : public testing::TestWithParam<std::string> {

 virtual void SetUp() override {
   usb = IUsb::getService(GetParam());
   ASSERT_NE(usb, nullptr);
...
 }

對於每種測試方法，請使用巨集TEST_P如下例所示。

TEST_P(UsbHidlTest, setCallback) {
...
}

使用巨集INSTANTIATE_TEST_SUITE_P實例化套件，如下例所示。

INSTANTIATE_TEST_SUITE_P(
       PerInstance, UsbHidlTest,
       testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IUsb::descriptor)),
       android::hardware::PrintInstanceNameToString);

論點是：

1. InstantiationName ，可以是與您的測試相符的任何內容。 PerInstance是一個通用名稱。

2. 測試類別名稱。

3. 實例名稱的集合，可以從內建方法檢索，例如getAllHalInstanceNames 。

4. 列印測試方法名稱的方法。 PrintInstanceNameToString是內建名稱，您可以使用它根據實例名稱和測試方法名稱編譯測試名稱。

使用多個輸入進行測試

gtest 支援元組進行值參數化測試。當 HAL 測試需要使用多個輸入進行測試時（例如，使用多個介面進行測試），您可以編寫以tuple作為測試參數的 gtest。完整的程式碼可以在VtsHalGraphicsMapperV2_1TargetTest中找到。

與單一測試參數的gtest相比，此測試需要使用tuple作為測試參數，如下例所示。

class GraphicsMapperHidlTest
   : public ::testing::TestWithParam<std::tuple<std::string, std::string>> {
 protected:
   void SetUp() override {
       ASSERT_NO_FATAL_FAILURE(mGralloc = std::make_unique<Gralloc>(std::get<0>(GetParam()),
                                                                    std::get<1>(GetParam())));
…
}

如果需要更複雜的參數，建議使用結構體和自訂 gtest ToString函數。

為了實例化測試套件，也使用巨集INSTANTIATE\_TEST\_CASE\_P ，但有兩個差異：

• 第三個參數是元組的集合（相對於基本情況中的字串集合）。
• 編譯測試名稱的方法需要支援tuple 。您可以使用內建方法PrintInstanceTupleNameToString ，它可以處理字串元組，如下例所示。

INSTANTIATE_TEST_CASE_P(
       PerInstance, GraphicsMapperHidlTest,
       testing::Combine(
               testing::ValuesIn(
                       android::hardware::getAllHalInstanceNames(IAllocator::descriptor)),
           testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IMapper::descriptor))),
       android::hardware::PrintInstanceTupleNameToString<>);