針對 HAL 測試的參數化 GTest

HAL 介面可能有多種實作方式。如要測試每個 HAL 實例的實作項目，標準做法是編寫值參數化 GTest。

基本測試設定

GTest 必須繼承基礎類別 testing::TestWithParam，其中的參數是每個例項的名稱。在 SetUp 方法中，可以根據執行個體名稱例項化服務，如下列程式碼片段所示。

// The main test class for the USB hidl HAL
class UsbHidlTest : public testing::TestWithParam<std::string> {

 virtual void SetUp() override {
   usb = IUsb::getService(GetParam());
   ASSERT_NE(usb, nullptr);
...
 }

針對每個測試方法，請使用巨集 TEST_P，如下列範例所示：

TEST_P(UsbHidlTest, setCallback) {
...
}

使用巨集 INSTANTIATE_TEST_SUITE_P 例項化套件，如以下範例所示：

INSTANTIATE_TEST_SUITE_P(
       PerInstance, UsbHidlTest,
       testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IUsb::descriptor)),
       android::hardware::PrintInstanceNameToString);

引數如下：

  1. InstantiationName，可以是符合測試的任何內容。「PerInstance」是常見名稱。

  2. 測試類別名稱。

  3. 執行個體名稱的集合，可從內建方法擷取，例如 getAllHalInstanceNames。

  4. 用於列印測試方法名稱的方法。 PrintInstanceNameToString 是內建名稱，可用於根據執行個體名稱和測試方法名稱編譯測試名稱。

使用多個輸入內容進行測試

GTest 支援元組，可用於值參數化測試。如果 HAL 測試需要使用多個輸入內容進行測試 (例如具有多個介面的測試)，您可以編寫以 tuple 做為測試參數的 GTest。完整程式碼請參閱 VtsHalGraphicsMapperV2_1TargetTest。

與使用單一測試參數的 GTest 相比，這個測試需要使用 tuple 做為測試參數，如下列範例所示：

class GraphicsMapperHidlTest
   : public ::testing::TestWithParam<std::tuple<std::string, std::string>> {
 protected:
   void SetUp() override {
       ASSERT_NO_FATAL_FAILURE(mGralloc = std::make_unique<Gralloc>(std::get<0>(GetParam()),
                                                                    std::get<1>(GetParam())));
…
}

如果需要更複雜的參數，建議使用結構和自訂 GTest ToString 函式。

如要例項化測試套件，也需要使用巨集 INSTANTIATE\_TEST\_CASE\_P，但有兩項差異：

  • 第三個引數是元組的集合 (而非基本情況下的字串集合)。
  • 編譯測試名稱的方法必須支援 tuple。您可以使用內建的 PrintInstanceTupleNameToString 方法，處理字串元組，如下列範例所示：
INSTANTIATE_TEST_CASE_P(
       PerInstance, GraphicsMapperHidlTest,
       testing::Combine(
               testing::ValuesIn(
                       android::hardware::getAllHalInstanceNames(IAllocator::descriptor)),
           testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IMapper::descriptor))),
       android::hardware::PrintInstanceTupleNameToString<>);