ModulLogcatCollector

public class ModuleLogcatCollector
extends LogcatOnFailureCollector

java.lang.Object
com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector
com.android.tradefed.device.metric.ModuleLogcatCollector


Version des Logcat-Kollektors, aber für das Modul.

Zusammenfassung

Öffentliche Konstrukteure

ModuleLogcatCollector ()

Öffentliche Methoden

void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

Rückruf, wenn ein Testfall fehlschlägt.

void onTestModuleEnded ()

Ermöglicht das Erfassen des Modulende-Ereignisses.

void onTestModuleStarted ()

Ermöglicht das Erfassen des Modulstartereignisses.

void onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics) onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

Rückruf wenn ein Testlauf beendet ist.

void onTestRunFailed ( DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)

Callback für testRunFailed-Ereignisse

void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)

Rückruf wenn ein Testlauf gestartet wird.

Öffentliche Konstrukteure

ModulLogcatCollector

public ModuleLogcatCollector ()

Öffentliche Methoden

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

Rückruf, wenn ein Testfall fehlschlägt.

Parameter
testData DeviceMetricData : die DeviceMetricData , die die Daten für den Testfall enthalten.

test TestDescription : die TestDescription des laufenden Testfalls.

Wirft
DeviceNotAvailableException

onTestModuleEnded

public void onTestModuleEnded ()

Ermöglicht das Erfassen des Modulende-Ereignisses.

Wirft
DeviceNotAvailableException

onTestModuleStarted

public void onTestModuleStarted ()

Ermöglicht das Erfassen des Modulstartereignisses.

Wirft
DeviceNotAvailableException

onTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

Rückruf wenn ein Testlauf beendet ist. Dies sollte die Zeit zum Aufräumen sein.

Parameter
runData DeviceMetricData : die DeviceMetricData , die die Daten für den Lauf enthalten. Wird dasselbe Objekt sein wie während onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData) .

currentRunMetrics : die aktuelle Karte der an ERROR(/#testRunEnded(long,Map)) übergebenen Metriken.

onTestRunFailed

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

Callback für testRunFailed-Ereignisse

Wirft
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

Rückruf wenn ein Testlauf gestartet wird.

Parameter
runData DeviceMetricData : die DeviceMetricData , die die Daten für den Lauf enthalten.

,

ModulLogcatCollector

public class ModuleLogcatCollector
extends LogcatOnFailureCollector

java.lang.Object
com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector
com.android.tradefed.device.metric.ModuleLogcatCollector


Version des Logcat-Kollektors, aber für das Modul.

Zusammenfassung

Öffentliche Konstrukteure

ModuleLogcatCollector ()

Öffentliche Methoden

void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

Rückruf, wenn ein Testfall fehlschlägt.

void onTestModuleEnded ()

Ermöglicht das Erfassen des Modulende-Ereignisses.

void onTestModuleStarted ()

Ermöglicht das Erfassen des Modulstartereignisses.

void onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics) onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

Rückruf wenn ein Testlauf beendet ist.

void onTestRunFailed ( DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)

Callback für testRunFailed-Ereignisse

void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)

Rückruf wenn ein Testlauf gestartet wird.

Öffentliche Konstrukteure

ModulLogcatCollector

public ModuleLogcatCollector ()

Öffentliche Methoden

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

Rückruf, wenn ein Testfall fehlschlägt.

Parameter
testData DeviceMetricData : die DeviceMetricData , die die Daten für den Testfall enthalten.

test TestDescription : die TestDescription des laufenden Testfalls.

Wirft
DeviceNotAvailableException

onTestModuleEnded

public void onTestModuleEnded ()

Ermöglicht das Erfassen des Modulende-Ereignisses.

Wirft
DeviceNotAvailableException

onTestModuleStarted

public void onTestModuleStarted ()

Ermöglicht das Erfassen des Modulstartereignisses.

Wirft
DeviceNotAvailableException

onTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

Rückruf wenn ein Testlauf beendet ist. Dies sollte die Zeit zum Aufräumen sein.

Parameter
runData DeviceMetricData : die DeviceMetricData , die die Daten für den Lauf enthalten. Wird dasselbe Objekt sein wie während onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData) .

currentRunMetrics : die aktuelle Karte der an ERROR(/#testRunEnded(long,Map)) übergebenen Metriken.

onTestRunFailed

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

Callback für testRunFailed-Ereignisse

Wirft
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

Rückruf wenn ein Testlauf gestartet wird.

Parameter
runData DeviceMetricData : die DeviceMetricData , die die Daten für den Lauf enthalten.