IMetricCollector (指標收集器)

public interface IMetricCollector
implements IDisableable, ILogSaverListener

com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector

已知間接子類別 AtraceCollector、AtraceRunRunMetricCollector、BaseDeviceMetricCollector、BluetoothConnectionStateCollector、BluetoothConnectionStateCollector、BluetoothHciSnoopLogCollector、BluetoothHciSnoopLogCollector、BugreportzOnTestReportzOn 通件收集 AtraceCollector 在測試期間執行追蹤記錄，並收集結果和記錄的 IMetricCollector 加到叫用中  AtraceRunMetricCollector 從指定目錄下的所有測試目錄收集追蹤記錄 從測試裝置記錄測試目錄，然後後處理追蹤檔 ，並匯總指標  BaseDeviceMetricCollector 允許在IMetricCollector onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)和ERROR(/#onTestRunEnd(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData,Map))。  BluetoothConnectionLatencyCollector， 收集器會將預先定義的統計資料時間長度指標設定推送到裝置上，並收集 每個設定檔的藍牙連線持續時間。  BluetoothConnectionStateCollector (藍牙連線狀態收集器) 這個收集器會收集 BluetoothConnectionStateChanged 指標並記錄連線狀態 號碼。  BluetoothHciSnoopLogCollector 用於在 DUT 上啟用藍牙 HCI 窺探記錄，以及收集每項測試的記錄。  BugreportzOnFailureCollector 在測試案例失敗時收集錯誤報告。  BugreportzOnTestCaseFailureCollector 在執行中的測試案例失敗時，收集錯誤報告。  ClangCodeCoverageCollector 將提取 Clang 的 BaseDeviceMetricCollector 同時測量裝置間的涵蓋率，並記錄為測試成果  CountTestCasesCollector 計算及回報指定 IRemoteTest 的測試案例數量。  DebugHostLogOnFailureCollector 測試案例失敗時，會收集並記錄主機端記錄的收集器。  DeviceTraceCollector 會在測試開始時啟動 Perfetto 追蹤記錄的收集器，並在結束時記錄追蹤檔。  FilePullerDeviceMetricCollector BaseDeviceMetricCollector，可監聽來自裝置的指標鍵， 以檔案的形式儲存在裝置中  FilePullerLogCollector 裝置端回報的檔案記錄器。  GcovCodeCoverageCollector 將會提取 gcov 的 BaseDeviceMetricCollector 同時測量裝置間的涵蓋率，並記錄為測試成果  GcovKernelCodeCoverageCollector 用來提取 gcov 核心的 BaseDeviceMetricCollector 從偵錯和裝置外部測量涵蓋率，最後將測量結果記錄為測試 導致學習失真性  HostStatsdMetricCollector 使用 Statsd 公用程式從主機端收集統計資料指標的 IMetricCollector 指令  JavaCodeCoverageCollector 可提取 Java 的 BaseDeviceMetricCollector 同時測量裝置間的涵蓋率，並記錄為測試成果  LogcatOnFailureCollector 測試案例失敗時，可擷取並記錄 Logcat 的收集器。  LogcatTimingMetricCollector 指標收集工具，會在以下期間從 Logcat 收集時間資訊 (例如使用者切換時間) 使用指定的規則運算式模式剖析 事件。  ModuleLogcatCollector 是模組的 Logcat 收集器版本。  PerfettoPullerMetricCollector 允許執行的 FilePullerDeviceMetricCollector 基礎實作 從裝置中提取 Perfetto 檔案，然後從裝置中收集指標  RebootReasonCollector 收集器會在測試執行期間收集裝置重新啟動，並按原因和次數回報。  RuntimeRestartCollector 收集器，可在測試期間收集執行階段重新啟動時間戳記 (系統伺服器當機) 執行  ScreenshotOnFailureCollector 測試案例失敗時，用來擷取並記錄螢幕截圖的收集器。  ShowmapPullerMetricCollector 允許提取顯示地圖的 FilePullerDeviceMetricCollector 基礎實作 然後從裝置中收集指標  TraceCmdCollector 使用 trace-cmd 收集在測試期間收集追蹤記錄的 IMetricCollector， 呼叫。

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回報測試結果時，這個介面將新增為裝飾器，以便收集 相符的指標

這個介面已擴充 ITestInvocationListener，因此無法做為 使用。設定檢查會拒絕。只有在做為 「metrics_collector」。

收集器可能在數個叢集中重複使用，因此不應保留內部狀態 例如減少干擾如果確實需要使用內部狀態，則應在 init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener) 上清除。

摘要

公用方法
default boolean	captureModuleLevel() 收集器是否適用於模組層級擷取，應為 init。
abstract	getBuildInfos() 傳回叫用中可用的建構資訊清單。
abstract	getDevices() 傳回叫用中可用的裝置清單。
abstract ITestInvocationListener	getInvocationListener() 傳回要轉寄結果的原始 ITestInvocationListener。
abstract ITestInvocationListener	init(IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener) 根據目前情境和轉送結果位置初始化收集器。
abstract void	onTestAssumptionFailure(DeviceMetricData testData, TestDescription test) 測試案例失敗而假設失敗時的回呼。
abstract void	onTestEnd(DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test) 當測試案例結束時回呼。
abstract void	onTestEnd(DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics) 當測試案例結束時回呼。
abstract void	onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test) 當測試案例失敗時回呼。
default void	onTestModuleEnded() 允許擷取模組已結束的事件。
default void	onTestModuleStarted() 允許擷取模組啟動的事件。
abstract void	onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, currentRunMetrics) 測試執行結束時回呼。
abstract void	onTestRunStart(DeviceMetricData runData) 測試執行作業開始時的回呼。
default void	onTestRunStart(DeviceMetricData runData, int testCount) 測試執行作業開始時的回呼。
abstract void	onTestStart(DeviceMetricData testData) 在測試案例啟動時回呼。

公用方法

擷取模組級別

public boolean captureModuleLevel ()

收集器是否適用於模組層級擷取，應為 init。

傳回
boolean

getBuildInfos

public abstract  getBuildInfos ()

傳回叫用中可用的建構資訊清單。

傳回

get 裝置

public abstract  getDevices ()

傳回叫用中可用的裝置清單。

傳回

getInvocationListener

public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()

傳回要轉寄結果的原始 ITestInvocationListener。

傳回
ITestInvocationListener

初始

public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context, 
                ITestInvocationListener listener)

根據目前情境和轉送結果位置初始化收集器。威爾 每個執行個體只會呼叫一次，且收集器預計將更新其內部 背景資訊和事件監聽器測試執行期間一律不會呼叫 Init。

除非您確定執行作業，否則請勿覆寫這項設定。

參數
context	IInvocationContext：用於進行叫用的 IInvocationContext。
listener	ITestInvocationListener：要放置結果的 ITestInvocationListener。

傳回
ITestInvocationListener	內含原始事件監聽器的新事件監聽器

擲回
DeviceNotAvailableException

onTestAssumptionFailure

public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試案例失敗而假設失敗時的回呼。

參數
testData	DeviceMetricData：保留測試案例資料的 DeviceMetricData。
test	TestDescription：進行中的測試案例的 TestDescription。

擲回
DeviceNotAvailableException

onTestEnd

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics, 
                TestDescription test)

當測試案例結束時回呼。現在應該是清理時間。

參數
testData	DeviceMetricData：保留測試案例資料的 DeviceMetricData。會是 與 onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData) 期間相同的物件
currentTestCaseMetrics	：傳遞至 ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map)) 的目前指標對應。
test	TestDescription：進行中的測試案例的 TestDescription。

擲回
DeviceNotAvailableException

onTestEnd

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics)

當測試案例結束時回呼。現在應該是清理時間。

參數
testData	DeviceMetricData：保留測試案例資料的 DeviceMetricData。會是 與 onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData) 期間相同的物件
currentTestCaseMetrics	：傳遞至 ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map)) 的目前指標對應。

擲回
DeviceNotAvailableException

onTestFail

public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

當測試案例失敗時回呼。

參數
testData	DeviceMetricData：保留測試案例資料的 DeviceMetricData。
test	TestDescription：進行中的測試案例的 TestDescription。

擲回
DeviceNotAvailableException

onTestModuleEnded

public void onTestModuleEnded ()

允許擷取模組已結束的事件。

擲回
	com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException
DeviceNotAvailableException

onTestModuleStarted

public void onTestModuleStarted ()

允許擷取模組啟動的事件。

擲回
	com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException
DeviceNotAvailableException

onTestRunEnd

public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

測試執行結束時回呼。現在應該是清理時間。

參數
runData	DeviceMetricData：保存執行作業資料的 DeviceMetricData。維持不變 物件，就像在 onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData) 期間一樣。
currentRunMetrics	：傳遞至 ERROR(/#testRunEnded(long,Map)) 的目前指標對應。

擲回
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

測試執行作業開始時的回呼。

參數
runData	DeviceMetricData：保存執行作業資料的 DeviceMetricData。

擲回
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData, 
                int testCount)

測試執行作業開始時的回呼。

參數
runData	DeviceMetricData：保存執行作業資料的 DeviceMetricData。
testCount	int：這項測試執行作業中的測試案例數量。

擲回
DeviceNotAvailableException

onTestStart

public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)

在測試案例啟動時回呼。

參數
testData	DeviceMetricData：保留測試案例資料的 DeviceMetricData。

擲回
DeviceNotAvailableException