指標收集器

public interface IMetricCollector
implements ILogSaverListener , IDisableable

com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector

已知的間接子類 AtraceCollector , AtraceRunMetricCollector , BaseDeviceMetricCollector , BluetoothConnectionLatencyCollector , BluetoothConnectionStateCollector , BluetoothHciSnoopLogCollector , BugreportzOnFailureCollector , BugreportzOnTestCaseFailureCollector , ClangCodeCoverageCollector , CountTestCasesCollector , DebugHostLogOnFailureCollector , DeviceTraceCollector , FilePullerDeviceMetricCollector , FilePullerLogCollector , GcovCodeCoverageCollector , and 12 others. 跟踪收集器 在測試期間運行 atrace 並收集結果並將其記錄到調用中的IMetricCollector 。 AtraceRunMetricCollector 從測試設備的給定目錄下的所有測試目錄中收集跟踪，記錄測試目錄併後處理測試目錄下的跟踪文件並聚合指標。 BaseDeviceMetricCollector IMetricCollector的基本實現，允許在onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)和ERROR(/#onTestRunEnd(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData,Map))上開始和停止收集。 BluetoothConnectionLatencyCollector 收集器會將預定義的 statsd 持續時間指標配置推送到設備，並收集每個配置文件的藍牙連接持續時間。 藍牙連接狀態收集器 此收集器將收集 BluetoothConnectionStateChanged 指標並記錄每個配置文件的連接狀態數。 藍牙HciSnoopLog收集器 收集器，用於在 DUT 上啟用藍牙 HCI 偵聽日誌記錄並收集每個測試的日誌。 BugreportzOnFailureCollector 當測試用例失敗時收集錯誤報告。 錯誤報告 zOnTestCaseFailureCollector 當運行中的測試用例失敗時收集錯誤報告。 ClangCodeCoverageCollector 一個BaseDeviceMetricCollector ，它將從設備中提取 Clang 覆蓋測量並將它們記錄為測試工件。 計數測試用例收集器 計算並報告給定IRemoteTest測試用例數。 DebugHostLogOnFailureCollector 發生測試用例失敗時收集並記錄主機端日誌的收集器。 設備跟踪收集器 收集器將在測試運行開始時啟動 perfetto trace 並在結束時記錄跟踪文件。 FilePullerDeviceMetricCollector 一個BaseDeviceMetricCollector ，它偵聽來自設備的指標鍵並將它們作為文件從設備中提取。 FilePuller日誌收集器 設備端上報文件的Logger。 GcovCodeCoverageCollector 一個BaseDeviceMetricCollector ，它將從設備中提取 gcov 覆蓋測量並將它們記錄為測試工件。 GcovKernelCodeCoverageCollector 一個BaseDeviceMetricCollector ，它將 gcov 內核覆蓋測量從 debugfs 和設備中拉出，然後最終將它們記錄為測試工件。 HostStatsdMetricCollector 一個IMetricCollector ，它使用 statsd 實用程序命令從主機端收集 statsd 指標。 JavaCodeCoverageCollector 一個BaseDeviceMetricCollector ，它將從設備中提取 Java 覆蓋率測量並將它們記錄為測試工件。 LogcatOnFailure 收集器 當測試用例失敗時將捕獲並記錄 logcat 的收集器。 LogcatTimingMetricCollector 一種度量收集器，通過使用給定的正則表達式模式從 logcat 行解析事件的開始和結束信號，在一次或多次重複測試期間從 logcat 收集計時信息（例如用戶切換時間）。 模塊LogcatCollector logcat 收集器的版本，但用於模塊。 PerfettoPullerMetricCollector FilePullerDeviceMetricCollector的基本實現，允許從設備中拉取 perfetto 文件並從中收集指標。 重啟原因收集器 在測試運行期間收集設備重啟並按原因和計數報告的收集器。 運行時重啟收集器 收集測試運行期間運行時重啟（系統服務器崩潰）時間戳的收集器（如果有）。 ScreenshotOnFailure收集器 當測試用例失敗時將捕獲並記錄屏幕截圖的收集器。 ShowmapPullerMetricCollector FilePullerDeviceMetricCollector的基本實現，它允許從設備中拉取顯示地圖文件並從中收集指標。 跟踪命令收集器 一個IMetricCollector ，它在測試期間使用 trace-cmd 收集跟踪，並將它們記錄到調用中。

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當報告測試結果以收集匹配指標時，此接口將作為裝飾器添加。

該接口不能用作甚至它擴展了ITestInvocationListener 。配置檢查將拒絕它。它必須用作“metrics_collector”。

收集器不應保持內部狀態，因為它們可能會在多個地方重複使用。如果確實必須使用內部狀態，則應在init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener)上清除它。

概括

公共方法
default boolean	captureModuleLevel () 收集器是否適用於模塊級捕獲，應該是init。
abstract	getBuildInfos () 返回調用中可用的構建信息列表。
abstract	getDevices () 返回調用中可用的設備列表。
abstract ITestInvocationListener	getInvocationListener () 返回我們轉發結果的原始ITestInvocationListener 。
abstract ITestInvocationListener	init ( IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener) 使用當前上下文和轉發結果的位置初始化收集器。
abstract void	onTestAssumptionFailure ( DeviceMetricData testData, TestDescription test) 當測試用例因假設失敗而失敗時回調。
abstract void	onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test) onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test) 測試用例結束時的回調。
abstract void	onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics) onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics) 測試用例結束時的回調。
abstract void	onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test) 測試用例失敗時回調。
default void	onTestModuleEnded () 允許捕獲模塊結束事件。
default void	onTestModuleStarted () 允許捕獲模塊啟動事件。
abstract void	onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics) onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics) 測試運行結束時回調。
abstract void	onTestRunStart ( DeviceMetricData runData) 測試運行開始時的回調。
default void	onTestRunStart ( DeviceMetricData runData, int testCount) 測試運行開始時的回調。
abstract void	onTestStart ( DeviceMetricData testData) 測試用例啟動時的回調。

公共方法

捕獲模塊級別

public boolean captureModuleLevel ()

收集器是否適用於模塊級捕獲，應該是init。

退貨
boolean

獲取構建信息

public abstract  getBuildInfos ()

返回調用中可用的構建信息列表。

退貨

獲取設備

public abstract  getDevices ()

返回調用中可用的設備列表。

退貨

getInvocationListener

public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()

返回我們轉發結果的原始ITestInvocationListener 。

退貨
ITestInvocationListener

在裡面

public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context, 
                ITestInvocationListener listener)

使用當前上下文和轉發結果的位置初始化收集器。每個實例只會調用一次，收集器應該更新其內部上下文和偵聽器。 Init 永遠不會在之前的測試運行期間被調用。

除非您知道自己在做什麼，否則不要覆蓋。

參數
context	IInvocationContext ：正在進行的調用的IInvocationContext 。
listener	ITestInvocationListener ：放置結果的ITestInvocationListener 。

退貨
ITestInvocationListener	新的聽眾包裝了原來的聽眾。

投擲
DeviceNotAvailableException

測試假設失敗

public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

當測試用例因假設失敗而失敗時回調。

參數
testData	DeviceMetricData ：保存測試用例數據的DeviceMetricData 。
test	TestDescription ：正在進行的測試用例的TestDescription 。

投擲
DeviceNotAvailableException

在測試結束時

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics, 
                TestDescription test)

測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
testData	DeviceMetricData ：保存測試用例數據的DeviceMetricData 。將與onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期間的對象相同。
currentTestCaseMetrics	：傳遞給ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))當前指標圖。
test	TestDescription ：正在進行的測試用例的TestDescription 。

投擲
DeviceNotAvailableException

在測試結束時

public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics)

測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。

參數
testData	DeviceMetricData ：保存測試用例數據的DeviceMetricData 。將與onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期間的對象相同。
currentTestCaseMetrics	：傳遞給ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))當前指標圖。

投擲
DeviceNotAvailableException

測試失敗

public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試用例失敗時回調。

參數
testData	DeviceMetricData ：保存測試用例數據的DeviceMetricData 。
test	TestDescription ：正在進行的測試用例的TestDescription 。

投擲
DeviceNotAvailableException

onTestModule結束

public void onTestModuleEnded ()

允許捕獲模塊結束事件。

投擲
	com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException
DeviceNotAvailableException

onTestModuleStarted

public void onTestModuleStarted ()

允許捕獲模塊啟動事件。

投擲
	com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException
DeviceNotAvailableException

onTestRun結束

public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

測試運行結束時回調。這應該是清理的時間。

參數
runData	DeviceMetricData ：保存運行數據的DeviceMetricData 。將與onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期間的對象相同。
currentRunMetrics	：傳遞給ERROR(/#testRunEnded(long,Map))的當前指標圖。

投擲
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

參數
runData	DeviceMetricData ：保存運行數據的DeviceMetricData 。

投擲
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData, 
                int testCount)

測試運行開始時的回調。

參數
runData	DeviceMetricData ：保存運行數據的DeviceMetricData 。
testCount	int ：本次測試運行中的測試用例數。

投擲
DeviceNotAvailableException

onTestStart

public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)

測試用例啟動時的回調。

參數
testData	DeviceMetricData ：保存測試用例數據的DeviceMetricData 。

投擲
DeviceNotAvailableException