LogcatOnFailureCollector

public class LogcatOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
   ↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
     ↳ com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector


測試案例失敗時,可擷取並記錄 Logcat 的收集器。

摘要

公用建構函式

LogcatOnFailureCollector()

公用方法

void onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)

當測試案例失敗時回呼。

void onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

測試執行結束時回呼。

void onTestRunFailed(DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)

testRunFailed 事件的回呼

void onTestRunStart(DeviceMetricData runData)

測試執行作業開始時的回呼。

void onTestStart(DeviceMetricData testData)

在測試案例啟動時回呼。

保護方法

void collectAndLog(String testName, int size)

公用建構函式

LogcatOnFailureCollector

public LogcatOnFailureCollector ()

公用方法

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

當測試案例失敗時回呼。

參數
testData DeviceMetricData:保留測試案例資料的 DeviceMetricData

test TestDescription:進行中的測試案例的 TestDescription

擲回
DeviceNotAvailableException

onTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

測試執行結束時回呼。現在應該是清理時間。

參數
runData DeviceMetricData:保存執行作業資料的 DeviceMetricData。維持不變 物件,就像在 onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData) 期間一樣。

currentRunMetrics :傳遞至 ERROR(/#testRunEnded(long,Map)) 的目前指標對應。

onTestRunFailed

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

testRunFailed 事件的回呼

擲回
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

測試執行作業開始時的回呼。

參數
runData DeviceMetricData:保存執行作業資料的 DeviceMetricData

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

在測試案例啟動時回呼。

參數
testData DeviceMetricData:保留測試案例資料的 DeviceMetricData

保護方法

collectionAndLog

protected void collectAndLog (String testName, 
                int size)

參數
testName String

size int

擲回
DeviceNotAvailableException