DebugHostLogOnFailureCollector

public class DebugHostLogOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
   ↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
     ↳ com.android.tradefed.device.metric.DebugHostLogOnFailureCollector


אספן שיאסוף ויתעד את היומנים בצד המארח כשמתרחשת שגיאה בתרחיש בדיקה. אם איסוף ברירת המחדל מופעל, המערכת תאסוף יומני מארחים ברמות שצוינו.

סיכום

‫constructors ציבוריים

DebugHostLogOnFailureCollector()

‫methods ציבוריים

boolean captureModuleLevel()
void onTestEnd(DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

קריאה חוזרת כשמקרה בדיקה מסתיים.

void onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)

התקשרות חזרה כשמקרה בדיקה נכשל.

void onTestModuleEnded()

מאפשרת ללכוד את האירוע של סיום המודול.

void onTestModuleStarted()

מאפשרת ללכוד את אירוע ההתחלה של המודול.

void onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

קריאה חוזרת כשמסתיימת הרצה של בדיקה.

void onTestRunFailed(DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)

קריאה חוזרת (callback) לאירועים מסוג testRunFailed

void onTestRunStart(DeviceMetricData runData)

קריאה חוזרת כשמתחילים הרצת בדיקה.

void onTestStart(DeviceMetricData testData)

קריאה חוזרת כשמתחילים תרחיש בדיקה.

‫constructors ציבוריים

DebugHostLogOnFailureCollector

public DebugHostLogOnFailureCollector ()

‫methods ציבוריים

captureModuleLevel

public boolean captureModuleLevel ()

החזרות
boolean

onTestEnd

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

קריאה חוזרת כשמקרה בדיקה מסתיים. זה הזמן לנקות את המידע.

פרמטרים
testData ‫DeviceMetricData: DeviceMetricData שמכיל את הנתונים של תרחיש הבדיקה. יהיה אותו אובייקט כמו במהלך onTestStart(DeviceMetricData).

currentTestCaseMetrics ‫Map: המפה הנוכחית של המדדים שמועברים אל testEnded(TestDescription,Map).

הקפצת הודעות שגיאה (throw)
DeviceNotAvailableException

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

התקשרות חזרה כשמקרה בדיקה נכשל.

פרמטרים
testData ‫DeviceMetricData: DeviceMetricData שמכיל את הנתונים של תרחיש הבדיקה.

test ‫TestDescription: TestDescription של מקרה הבדיקה שנמצא בתהליך.

onTestModuleEnded

public void onTestModuleEnded ()

מאפשרת ללכוד את האירוע של סיום המודול.

הקפצת הודעות שגיאה (throw)
DeviceNotAvailableException

onTestModuleStarted

public void onTestModuleStarted ()

מאפשרת ללכוד את אירוע ההתחלה של המודול.

הקפצת הודעות שגיאה (throw)
DeviceNotAvailableException

onTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

קריאה חוזרת כשמסתיימת הרצה של בדיקה. זה הזמן לנקות את המידע.

פרמטרים
runData ‫DeviceMetricData: ה-DeviceMetricData שמכיל את הנתונים של ההרצה. יהיה אותו אובייקט כמו במהלך onTestRunStart(DeviceMetricData).

currentRunMetrics ‫Map: המפה הנוכחית של המדדים שמועברים אל testRunEnded(long,Map).

הקפצת הודעות שגיאה (throw)
DeviceNotAvailableException

onTestRunFailed

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

קריאה חוזרת (callback) לאירועים מסוג testRunFailed

הקפצת הודעות שגיאה (throw)
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

קריאה חוזרת כשמתחילים הרצת בדיקה.

פרמטרים
runData ‫DeviceMetricData: ה-DeviceMetricData שמכיל את הנתונים של ההרצה.

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

קריאה חוזרת כשמתחילים תרחיש בדיקה.

פרמטרים
testData ‫DeviceMetricData: DeviceMetricData שמכיל את הנתונים של תרחיש הבדיקה.

הקפצת הודעות שגיאה (throw)
DeviceNotAvailableException