跟踪收集器

public class AtraceCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
↳	com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
	↳	com.android.tradefed.device.metric.AtraceCollector

已知的直接子类 跟踪命令收集器 跟踪命令收集器 一个IMetricCollector ，它在测试期间使用 trace-cmd 收集跟踪，并将它们记录到调用中。

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在测试期间运行 atrace 并收集结果并将其记录到调用中的IMetricCollector 。

概括

公共构造函数
AtraceCollector ()

公共方法
void	onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test) onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test) 测试用例结束时的回调。
void	onTestStart ( DeviceMetricData testData) 测试用例启动时的回调。

受保护的方法
String	fullLogPath ()
LogDataType	getLogType ()
void	startTracing ( ITestDevice device)
void	stopTracing ( ITestDevice device)

公共构造函数

跟踪收集器

public AtraceCollector ()

公共方法

在测试结束时

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics, 
                TestDescription test)

测试用例结束时的回调。这应该是清理的时间。

参数
testData	DeviceMetricData ：保存测试用例数据的DeviceMetricData 。将与onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期间的对象相同。
currentTestCaseMetrics	：传递给ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))的当前指标图。
test	TestDescription ：正在进行的测试用例的TestDescription 。

投掷
DeviceNotAvailableException

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

测试用例启动时的回调。

参数
testData	DeviceMetricData ：保存测试用例数据的DeviceMetricData 。

投掷
DeviceNotAvailableException

受保护的方法

完整日志路径

protected String fullLogPath ()

退货
String

获取日志类型

protected LogDataType getLogType ()

退货
LogDataType

开始追踪

protected void startTracing (ITestDevice device)

参数
device	ITestDevice

投掷
DeviceNotAvailableException

停止追踪

protected void stopTracing (ITestDevice device)

参数
device	ITestDevice

投掷
DeviceNotAvailableException