ScreenshotOnFailureCollector
public
class
ScreenshotOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector
| java.lang.Object | ||
| ↳ | com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector | |
| ↳ | com.android.tradefed.device.metric.ScreenshotOnFailureCollector | |
在测试用例失败时捕获并记录屏幕截图的收集器。如果启用了默认收集，系统将按指定级别收集屏幕截图。
摘要
公共构造函数 | |
|---|---|
ScreenshotOnFailureCollector()
|
|
公共方法 | |
|---|---|
boolean
|
captureModuleLevel()
|
void
|
onTestEnd(DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)
测试用例结束时的回调。 |
void
|
onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)
测试用例失败时的回调。 |
void
|
onTestModuleEnded()
允许捕获模块结束事件。 |
void
|
onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)
测试运行结束时的回调。 |
void
|
onTestRunFailed(DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)
针对 testRunFailed 事件的回调 |
void
|
onTestRunStart(DeviceMetricData runData)
测试运行开始时的回调。 |
void
|
onTestStart(DeviceMetricData testData)
测试用例开始时的回调。 |
公共构造函数
ScreenshotOnFailureCollector
public ScreenshotOnFailureCollector ()
公共方法
captureModuleLevel
public boolean captureModuleLevel ()
| 返回 | |
|---|---|
boolean |
|
onTestEnd
public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)
测试用例结束时的回调。此时应执行清理操作。
| 参数 | |
|---|---|
testData |
DeviceMetricData：用于保存测试用例数据的 DeviceMetricData。将与 onTestStart(DeviceMetricData) 期间的对象相同。 |
currentTestCaseMetrics |
Map：传递给 testEnded(TestDescription,Map) 的当前指标映射。 |
| 抛出 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestFail
public void onTestFail (DeviceMetricData testData, TestDescription test)
测试用例失败时的回调。
| 参数 | |
|---|---|
testData |
DeviceMetricData：用于保存测试用例数据的 DeviceMetricData。 |
test |
TestDescription：正在进行的测试用例的 TestDescription。 |
| 抛出 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestRunEnd
public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)
测试运行结束时的回调。此时应执行清理操作。
| 参数 | |
|---|---|
runData |
DeviceMetricData：用于保存运行数据的 DeviceMetricData。将与 onTestRunStart(DeviceMetricData) 期间的对象相同。 |
currentRunMetrics |
Map：传递给 testRunEnded(long,Map) 的当前指标映射。 |
| 抛出 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestRunFailed
public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)
针对 testRunFailed 事件的回调
| 抛出 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|
onTestRunStart
public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)
测试运行开始时的回调。
| 参数 | |
|---|---|
runData |
DeviceMetricData：用于保存运行数据的 DeviceMetricData。 |
onTestStart
public void onTestStart (DeviceMetricData testData)
测试用例开始时的回调。
| 参数 | |
|---|---|
testData |
DeviceMetricData：用于保存测试用例数据的 DeviceMetricData。 |
| 抛出 | |
|---|---|
DeviceNotAvailableException |
|