HostStatsdMetricCollector

public class HostStatsdMetricCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
com.android.tradefed.device.metric.HostStatsdMetricCollector


IMetricCollector ,使用 statsd 实用程序命令从主机端收集 statsd 指标。它具有基本的推送指标和转储报告功能。可以根据需要通过子类扩展来处理 statsd 指标报告。

概括

公共构造函数

HostStatsdMetricCollector ()

公共方法

void onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics) onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)

测试用例结束时的回调。

void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

void onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics) onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。

void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

void onTestStart ( DeviceMetricData testData)

测试用例启动时的回调。

受保护的方法

void processStatsReport ( ITestDevice device, InputStreamSource dataStream, DeviceMetricData runData)

如果需要,子类可以实现处理 Statsd 指标报告的方法。

公共构造函数

HostStatsdMetricCollector

public HostStatsdMetricCollector ()

公共方法

测试结束时

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics)

测试用例结束时的回调。这应该是清理的时间。

参数
testData DeviceMetricData :保存测试用例数据的DeviceMetricData 。将与onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期间的对象相同。

currentTestCaseMetrics :传递给ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))的当前指标映射。

投掷
DeviceNotAvailableException

测试失败时

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
testData DeviceMetricData :保存测试用例数据的DeviceMetricData

test TestDescription :正在进行的测试用例的TestDescription

测试运行结束时

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。这应该是清理的时间。

参数
runData DeviceMetricData :保存运行数据的DeviceMetricData 。将与onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期间的对象相同。

currentRunMetrics :传递给ERROR(/#testRunEnded(long,Map))当前指标映射。

投掷
DeviceNotAvailableException

测试运行开始时

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

参数
runData DeviceMetricData :保存运行数据的DeviceMetricData

投掷
DeviceNotAvailableException

测试开始时

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

测试用例启动时的回调。

参数
testData DeviceMetricData :保存测试用例数据的DeviceMetricData

投掷
DeviceNotAvailableException

受保护的方法

进程统计报告

protected void processStatsReport (ITestDevice device, 
                InputStreamSource dataStream, 
                DeviceMetricData runData)

如果需要,子类可以实现处理 Statsd 指标报告的方法。调用特定设备的指标报告

参数
device ITestDevice :statsd 报告来自的测试设备

dataStream InputStreamSource :作为输入流的统计报告

runData DeviceMetricData :存储已处理指标的目标