設備測試結果

public class DeviceTestResult
extends TestResult

java.lang.Object
↳	junit.framework.TestResult
	↳	com.android.tradefed.testtype.DeviceTestResult

---

TestResult的特化，當DeviceNotAvailableException發生時將中止

概括

嵌套類
class	DeviceTestResult.RuntimeDeviceNotAvailableException

公共構造函數
DeviceTestResult ()

公共方法
void	endTest (Test test)
void	runProtected (Test test, Protectable p) 運行測試用例。
void	setTestInfo ( TestInformation testInfo)
void	startTest (Test test)

受保護的方法
void	run (TestCase test)

公共構造函數

設備測試結果

public DeviceTestResult ()

公共方法

結束測試

public void endTest (Test test)

參數
test	Test

運行受保護

public void runProtected (Test test, 
                Protectable p)

運行測試用例。

參數
test	Test
p	Protectable

投擲
DeviceTestResult.RuntimeDeviceNotAvailableException	如果發生 DeviceNotAvailableException

設置測試信息

public void setTestInfo (TestInformation testInfo)

參數
testInfo	TestInformation

開始測試

public void startTest (Test test)

參數
test	Test

受保護的方法

跑步

protected void run (TestCase test)

參數
test	TestCase