DeviceTestResult 设备
public
class
DeviceTestResult
extends TestResult
java.lang.Object 中 | ||
↳ | junit.framework.TestResult | |
↳ | com.android.tradefed.testtype.DeviceTestResult |
TestResult
的特化,将在发生
发生 DeviceNotAvailableException
次
摘要
嵌套类 | |
---|---|
class |
DeviceTestResult.RuntimeDeviceNotAvailableException
|
公共构造函数 | |
---|---|
DeviceTestResult()
|
公共方法 | |
---|---|
void
|
endTest(Test test)
|
void
|
runProtected(Test test, Protectable p)
运行 TestCase。 |
void
|
setTestInfo(TestInformation testInfo)
|
void
|
startTest(Test test)
|
受保护的方法 | |
---|---|
void
|
run(TestCase test)
|
公共构造函数
DeviceTestResult 设备
public DeviceTestResult ()
公共方法
endTest
public void endTest (Test test)
参数 | |
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test |
Test |
runProtected
public void runProtected (Test test, Protectable p)
运行 TestCase。
参数 | |
---|---|
test |
Test |
p |
Protectable |
抛出 | |
---|---|
DeviceTestResult.RuntimeDeviceNotAvailableException |
如果发生 DeviceNotAvailableException |
startTest
public void startTest (Test test)
参数 | |
---|---|
test |
Test |
受保护的方法
得分
protected void run (TestCase test)
参数 | |
---|---|
test |
TestCase |