故障收集器屏幕截图

public class ScreenshotOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
com.android.tradefed.device.metric.ScreenshotOnFailureCollector


当测试用例失败时,收集器将捕获并记录屏幕截图。

概括

公共构造函数

ScreenshotOnFailureCollector ()

公共方法

void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

公共构造函数

故障收集器屏幕截图

public ScreenshotOnFailureCollector ()

公共方法

测试失败时

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
testData DeviceMetricData :保存测试用例数据的DeviceMetricData

test TestDescription :正在进行的测试用例的TestDescription

投掷
DeviceNotAvailableException

测试运行开始时

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

参数
runData DeviceMetricData :保存运行数据的DeviceMetricData