设备跟踪收集器

public class DeviceTraceCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
com.android.tradefed.device.metric.DeviceTraceCollector


收集器将在测试运行开始时启动 perfetto trace 并在结束时记录跟踪文件。

概括

公共构造函数

DeviceTraceCollector ()

公共方法

ITestInvocationListener init ( IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)

使用当前上下文和转发结果的位置初始化收集器。

void onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics) onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

测试运行结束时回调。

void setInstrumentationPkgName (String packageName)

公共构造函数

设备跟踪收集器

public DeviceTraceCollector ()

公共方法

在里面

public ITestInvocationListener init (IInvocationContext context, 
                ITestInvocationListener listener)

使用当前上下文和转发结果的位置初始化收集器。每个实例只会调用一次,收集器应该更新其内部上下文和侦听器。 Init 永远不会在之前的测试运行期间被调用。

除非您知道自己在做什么,否则不要覆盖。

参数
context IInvocationContext :正在进行的调用的IInvocationContext

listener ITestInvocationListener :放置结果的ITestInvocationListener

退货
ITestInvocationListener新的听众包装了原来的听众。

投掷
DeviceNotAvailableException

onTestRun结束

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

测试运行结束时回调。这应该是清理的时间。

参数
runData DeviceMetricData :保存运行数据的DeviceMetricData 。将与BaseDeviceMetricCollector.onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期间的对象相同。

currentRunMetrics :传递给ERROR(/#testRunEnded(long,Map))的当前指标图。

投掷
DeviceNotAvailableException

setInstrumentationPkgName

public void setInstrumentationPkgName (String packageName)

参数
packageName String