设备测试结果

public class DeviceTestResult
extends TestResult

java.lang.Object
junit.framework.TestResult
com.android.tradefed.testtype.DeviceTestResult


发生DeviceNotAvailableException时将中止的TestResult特化

概括

嵌套类

class DeviceTestResult.RuntimeDeviceNotAvailableException

公共构造函数

DeviceTestResult ()

公共方法

void endTest (Test test)

void runProtected (Test test, Protectable p)

运行一个测试用例。

void setTestInfo ( TestInformation testInfo)
void startTest (Test test)

受保护的方法

void run (TestCase test)

公共构造函数

设备测试结果

public DeviceTestResult ()

公共方法

结束测试

public void endTest (Test test)

参数
test Test

运行保护

public void runProtected (Test test, 
                Protectable p)

运行一个测试用例。

参数
test Test

p Protectable

投掷
DeviceTestResult.RuntimeDeviceNotAvailableException如果发生 DeviceNotAvailableException

设置测试信息

public void setTestInfo (TestInformation testInfo)

参数
testInfo TestInformation

开始测试

public void startTest (Test test)

参数
test Test

受保护的方法

protected void run (TestCase test)

参数
test TestCase