设备测试结果
public class DeviceTestResult
extends TestResult
java.lang.Object | ||
↳ | junit.framework.TestResult | |
↳ | com.android.tradefed.testtype.DeviceTestResult |
发生DeviceNotAvailableException
时将中止的TestResult
特化
概括
嵌套类 | |
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class | DeviceTestResult.RuntimeDeviceNotAvailableException
|
公共构造函数 | |
---|---|
DeviceTestResult () |
公共方法 | |
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void | endTest (Test test) |
void | runProtected (Test test, Protectable p) 运行一个测试用例。 |
void | setTestInfo ( TestInformation testInfo) |
void | startTest (Test test) |
受保护的方法 | |
---|---|
void | run (TestCase test) |
公共构造函数
设备测试结果
public DeviceTestResult ()
公共方法
结束测试
public void endTest (Test test)
参数 | |
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test | Test |
运行保护
public void runProtected (Test test, Protectable p)
运行一个测试用例。
参数 | |
---|---|
test | Test |
p | Protectable |
投掷 | |
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DeviceTestResult.RuntimeDeviceNotAvailableException | 如果发生 DeviceNotAvailableException |
开始测试
public void startTest (Test test)
参数 | |
---|---|
test | Test |
受保护的方法
跑
protected void run (TestCase test)
参数 | |
---|---|
test | TestCase |
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Last updated 2022-11-07 UTC.
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