ScreenshotOnFailureCollector

public class ScreenshotOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object 中
↳	com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
	↳	com.android.tradefed.device.metric.ScreenshotOnFailureCollector

---

收集器，用于在测试用例失败时捕获并记录屏幕截图。

摘要

公共构造函数
ScreenshotOnFailureCollector()

公共方法
void	onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test) 测试用例失败时的回调。
void	onTestRunStart(DeviceMetricData runData) 测试运行开始时的回调。

公共构造函数

ScreenshotOnFailureCollector

public ScreenshotOnFailureCollector ()

公共方法

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
testData	DeviceMetricData：用于保存测试用例数据的 DeviceMetricData。
test	TestDescription：正在进行的测试用例的 TestDescription。

抛出
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

参数
runData	DeviceMetricData：保存运行数据的 DeviceMetricData。