" id="screenshotonfailurecollector" tabindex="-1">ScreenshotOnFailureCollector<ph type="x-smartling-void-element"><br></ph>

public class ScreenshotOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
↳	com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
	↳	com.android.tradefed.device.metric.ScreenshotOnFailureCollector.

---

テストケースが失敗したときにスクリーンショットをキャプチャしてログに記録するコレクタ。

概要

パブリック コンストラクタ
ScreenshotOnFailureCollector()

パブリック メソッド
void	onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test) テストケースが失敗した場合のコールバック。
void	onTestRunStart(DeviceMetricData runData) テスト実行が開始されたときのコールバック。

パブリック コンストラクタ

" id="ScreenshotOnFailureCollector()" tabindex="-1">ScreenshotOnFailureCollector<ph type="x-smartling-void-element"><br></ph>

public ScreenshotOnFailureCollector ()

パブリック メソッド

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

テストケースが失敗した場合のコールバック。

パラメータ
testData	DeviceMetricData: テストケースのデータを保持する DeviceMetricData。
test	TestDescription: 進行中のテストケースの TestDescription。

例外
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

テスト実行が開始されたときのコールバック。

パラメータ
runData	DeviceMetricData: 実行のデータを保持する DeviceMetricData。