故障收集器螢幕截圖

public class ScreenshotOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
com.android.tradefed.device.metric.ScreenshotOnFailureCollector


當測試用例失敗時,收集器將捕獲並記錄螢幕截圖。

概括

公共構造函數

ScreenshotOnFailureCollector ()

公共方法

void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

測試用例失敗時的回調。

void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

公共構造函數

故障收集器螢幕截圖

public ScreenshotOnFailureCollector ()

公共方法

測試失敗時

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試用例失敗時的回調。

參數
testData DeviceMetricData :儲存測試用例資料的DeviceMetricData

test TestDescription :正在進行的測試案例的TestDescription

投擲
DeviceNotAvailableException

測試運行開始時

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

測試運行開始時的回調。

參數
runData DeviceMetricData :儲存運行資料的DeviceMetricData