Od 27 marca 2025 r. zalecamy używanie android-latest-release zamiast aosp-main do kompilowania i wspołtworzenia AOSP. Więcej informacji znajdziesz w artykule o zmianach w AOSP.

Ta strona została przetłumaczona przez Cloud Translation API.

ScreenshotOnFailureCollector

public class ScreenshotOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
↳	com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
	↳	com.android.tradefed.device.metric.ScreenshotOnFailureCollector

Kolekcjoner, który rejestruje zrzuty ekranu i je przechowuje, gdy test się nie powiedzie.

Podsumowanie

Konstruktory publiczne
`ScreenshotOnFailureCollector()`

Metody publiczne
`void`	`onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)` wywołanie zwrotne, gdy przypadek testowy zakończy się niepowodzeniem.
`void`	`onTestRunStart(DeviceMetricData runData)` wywołanie zwrotne po rozpoczęciu testu.

Konstruktory publiczne

ScreenshotOnFailureCollector

public ScreenshotOnFailureCollector ()

Metody publiczne

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

wywołanie zwrotne, gdy przypadek testowy zakończy się niepowodzeniem.

Parametry
`testData`	`DeviceMetricData`: `DeviceMetricData` zawierający dane testowe.
`test`	`TestDescription`: `TestDescription` elementu testowania w trakcie wykonywania.

Rzuty
`DeviceNotAvailableException`

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

wywołanie zwrotne po rozpoczęciu testu.

Parametry
`runData`	`DeviceMetricData`: `DeviceMetricData` zawierający dane dotyczące wykonania.