LogcatTimingMetricCollector
public
class
LogcatTimingMetricCollector
extends BaseDeviceMetricCollector
java.lang.Object | ||
↳ | com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector | |
↳ | com.android.tradefed.device.metric.LogcatTimingMetricCollector |
指标收集器,用于在一次或多次重复测试期间从 Logcat 收集时间信息(例如用户切换时间),方法是使用给定的正则表达式模式解析 Logcat 行中的事件开始和结束信号。
摘要
公共构造函数 | |
---|---|
Logcat
|
公共方法 | |
---|---|
void
|
on
测试用例结束时的回调。 |
void
|
onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)
测试用例失败时的回调。 |
void
|
onTestRunEnd(DeviceMetricData testData,
测试运行结束时的回调。 |
void
|
onTestRunStart(DeviceMetricData testData)
测试运行开始时的回调。 |
void
|
onTestStart(DeviceMetricData testData)
测试用例启动时的回调。 |
公共构造函数
LogcatTimingMetricCollector
public LogcatTimingMetricCollector ()
公共方法
onTestEnd
public void onTestEnd (DeviceMetricData testData,currentTestCaseMetrics)
测试用例结束时的回调。现在应该是清理时间了。
参数 | |
---|---|
testData |
DeviceMetricData :用于存储测试用例数据的 DeviceMetricData 。将与 onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData) 期间相同的对象。 |
currentTestCaseMetrics |
:传递给 ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map)) 的当前指标映射。 |
onTestFail
public void onTestFail (DeviceMetricData testData, TestDescription test)
测试用例失败时的回调。
参数 | |
---|---|
testData |
DeviceMetricData :用于存储测试用例数据的 DeviceMetricData 。 |
test |
TestDescription :正在进行的测试用例的 TestDescription 。 |
onTestRunEnd
public void onTestRunEnd (DeviceMetricData testData,currentTestCaseMetrics)
测试运行结束时的回调。现在应该是清理时间了。
参数 | |
---|---|
testData |
DeviceMetricData :用于存储运行数据的 DeviceMetricData 。将与 onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData) 期间相同的对象。 |
currentTestCaseMetrics |
:传递给 ERROR(/#testRunEnded(long,Map)) 的当前指标映射。 |
onTestRunStart
public void onTestRunStart (DeviceMetricData testData)
测试运行开始时的回调。
参数 | |
---|---|
testData |
DeviceMetricData :用于存储运行数据的 DeviceMetricData 。 |
onTestStart
public void onTestStart (DeviceMetricData testData)
测试用例启动时的回调。
参数 | |
---|---|
testData |
DeviceMetricData :用于存储测试用例数据的 DeviceMetricData 。 |