LogcatOnFailureCollector 日志收集器

public class LogcatOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector


当测试用例失败时,收集器将捕获并记录 logcat。

概括

公共构造函数

LogcatOnFailureCollector ()

公共方法

void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

void onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics) onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。

void onTestRunFailed ( DeviceMetricData testData, FailureDescription failure)

testRunFailed 事件的回调

void onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

void onTestStart ( DeviceMetricData testData)

测试用例启动时的回调。

受保护的方法

void collectAndLog (String testName, int size)

公共构造函数

LogcatOnFailureCollector 日志收集器

public LogcatOnFailureCollector ()

公共方法

测试失败时

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
testData DeviceMetricData :保存测试用例数据的DeviceMetricData

test TestDescription :正在进行的测试用例的TestDescription

投掷
DeviceNotAvailableException

测试运行结束时

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

测试运行结束时的回调。这应该是清理的时间。

参数
runData DeviceMetricData :保存运行数据的DeviceMetricData 。将与onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期间的对象相同。

currentRunMetrics :传递给ERROR(/#testRunEnded(long,Map))的当前指标映射。

测试运行失败

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

testRunFailed 事件的回调

投掷
DeviceNotAvailableException

测试运行开始时

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

测试运行开始时的回调。

参数
runData DeviceMetricData :保存运行数据的DeviceMetricData

测试开始时

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

测试用例启动时的回调。

参数
testData DeviceMetricData :保存测试用例数据的DeviceMetricData

受保护的方法

收集并记录

protected void collectAndLog (String testName, 
                int size)

参数
testName String

size int

投掷
DeviceNotAvailableException