度量收集器
public interface IMetricCollector
implements ILogSaverListener , IDisableable
com.android.tradefed.device.metric.IMetricCollector |
在報告測試結果時,該介面將作為裝飾器添加,以收集匹配的指標。
此介面不能用作 收集器不應保留內部狀態,因為它們可能會在多個地方重複使用。如果確實必須使用內部狀態,則應在 收集器是否適用於模組級捕獲並且應該是 init 的。 傳回呼叫中可用的建置資訊列表。 傳回呼叫中可用的設備清單。 傳回我們在其中轉送結果的原始 使用當前上下文以及將結果轉送到的位置來初始化收集器。 當測試用例因假設失敗而失敗時的回調。 測試用例結束時的回調。 測試用例結束時的回調。 測試用例失敗時的回調。 允許捕獲模組結束事件。 允許捕獲模組啟動事件。 測試運行結束時的回調。 測試運行開始時的回調。 測試運行開始時的回調。 測試用例啟動時的回調。 收集器是否適用於模組級捕獲並且應該是 init 的。 傳回呼叫中可用的建置資訊列表。 傳回呼叫中可用的設備清單。 傳回我們在其中轉發結果的原始 使用當前上下文以及將結果轉送到的位置來初始化收集器。每個實例只會呼叫一次,並且收集器預計會更新其內部上下文和偵聽器。以前在測試運行期間永遠不會呼叫 Init。 除非您知道自己在做什麼,否則請勿覆蓋。 當測試用例因假設失敗而失敗時的回調。 測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。 測試用例結束時的回調。這應該是清理的時間。 測試用例失敗時的回調。 允許捕獲模組結束事件。 允許捕獲模組啟動事件。 測試運行結束時的回調。這應該是清理的時間。 測試運行開始時的回調。 測試運行開始時的回調。 測試用例啟動時的回調。ITestInvocationListener
。配置檢查將拒絕它。它必須用作“metrics_collector”。init(com.android.tradefed.invoker.IInvocationContext, com.android.tradefed.result.ITestInvocationListener)
上清理它。概括
公共方法
default boolean
captureModuleLevel ()
abstract
getBuildInfos ()
abstract
getDevices ()
abstract ITestInvocationListener
getInvocationListener ()
ITestInvocationListener
。 abstract ITestInvocationListener
init ( IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)
abstract void
onTestAssumptionFailure ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)
abstract void
onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)
onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics, TestDescription test)
abstract void
onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)
onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)
abstract void
onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)
default void
onTestModuleEnded ()
default void
onTestModuleStarted ()
abstract void
onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)
onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)
abstract void
onTestRunStart ( DeviceMetricData runData)
default void
onTestRunStart ( DeviceMetricData runData, int testCount)
abstract void
onTestStart ( DeviceMetricData testData)
公共方法
捕獲模組級別
public boolean captureModuleLevel ()
退貨 boolean
獲取建構資訊
public abstract
退貨 取得設備
public abstract
退貨 取得呼叫監聽器
public abstract ITestInvocationListener getInvocationListener ()
ITestInvocationListener
。退貨 ITestInvocationListener
在裡面
public abstract ITestInvocationListener init (IInvocationContext context,
ITestInvocationListener listener)
參數 context
IInvocationContext
:正在進行的呼叫的IInvocationContext
。 listener
ITestInvocationListener
: ITestInvocationListener
放置結果的位置。退貨 ITestInvocationListener
新的監聽器包裹了原來的監聽器。 投擲 DeviceNotAvailableException
測試假設失敗
public abstract void onTestAssumptionFailure (DeviceMetricData testData,
TestDescription test)
參數 testData
DeviceMetricData
:儲存測試用例資料的DeviceMetricData
。 test
TestDescription
:正在進行的測試案例的TestDescription
。投擲 DeviceNotAvailableException
測試結束時
public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData,
參數 testData
DeviceMetricData
:儲存測試用例資料的DeviceMetricData
。將與onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)
期間的物件相同。 currentTestCaseMetrics
ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))
的目前指標映射。 test
TestDescription
:正在進行的測試案例的TestDescription
。投擲 DeviceNotAvailableException
測試結束時
public abstract void onTestEnd (DeviceMetricData testData,
參數 testData
DeviceMetricData
:儲存測試用例資料的DeviceMetricData
。將與onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)
期間的物件相同。 currentTestCaseMetrics
ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))
的目前指標映射。投擲 DeviceNotAvailableException
測試失敗時
public abstract void onTestFail (DeviceMetricData testData,
TestDescription test)
參數 testData
DeviceMetricData
:儲存測試用例資料的DeviceMetricData
。 test
TestDescription
:正在進行的測試案例的TestDescription
。投擲 DeviceNotAvailableException
測試模組結束時
public void onTestModuleEnded ()
投擲 com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException DeviceNotAvailableException
測試模組啟動
public void onTestModuleStarted ()
投擲 com.android.tradefed.device.DeviceNotAvailableException DeviceNotAvailableException
測試運行結束時
public abstract void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData,
參數 runData
DeviceMetricData
:儲存運行資料的DeviceMetricData
。將與onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)
期間的物件相同。 currentRunMetrics
ERROR(/#testRunEnded(long,Map))
目前指標映射。投擲 DeviceNotAvailableException
測試運行開始時
public abstract void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)
參數 runData
DeviceMetricData
:儲存運行資料的DeviceMetricData
。投擲 DeviceNotAvailableException
測試運行開始時
public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData,
int testCount)
參數 runData
DeviceMetricData
:儲存運行資料的DeviceMetricData
。 testCount
int
:本次測試運行中的測試案例數量。投擲 DeviceNotAvailableException
測試開始時
public abstract void onTestStart (DeviceMetricData testData)
參數 testData
DeviceMetricData
:儲存測試用例資料的DeviceMetricData
。投擲 DeviceNotAvailableException