設備跟踪收集器

public class DeviceTraceCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
com.android.tradefed.device.metric.DeviceTraceCollector


收集器將在測試運行開始時啟動 perfetto trace 並在結束時記錄跟踪文件。

概括

公共構造函數

DeviceTraceCollector ()

公共方法

ITestInvocationListener init ( IInvocationContext context, ITestInvocationListener listener)

使用當前上下文和轉發結果的位置初始化收集器。

void onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics) onTestRunEnd ( DeviceMetricData runData, currentRunMetrics)

測試運行結束時回調。

void setInstrumentationPkgName (String packageName)

公共構造函數

設備跟踪收集器

public DeviceTraceCollector ()

公共方法

在裡面

public ITestInvocationListener init (IInvocationContext context, 
                ITestInvocationListener listener)

使用當前上下文和轉發結果的位置初始化收集器。每個實例只會調用一次,收集器應該更新其內部上下文和偵聽器。 Init 永遠不會在之前的測試運行期間被調用。

除非您知道自己在做什麼,否則不要覆蓋。

參數
context IInvocationContext :正在進行的調用的IInvocationContext

listener ITestInvocationListener :放置結果的ITestInvocationListener

退貨
ITestInvocationListener新的聽眾包裝了原來的聽眾。

投擲
DeviceNotAvailableException

onTestRun結束

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                 currentRunMetrics)

測試運行結束時回調。這應該是清理的時間。

參數
runData DeviceMetricData :保存運行數據的DeviceMetricData 。將與BaseDeviceMetricCollector.onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期間的對象相同。

currentRunMetrics :傳遞給ERROR(/#testRunEnded(long,Map))的當前指標圖。

投擲
DeviceNotAvailableException

setInstrumentationPkgName

public void setInstrumentationPkgName (String packageName)

參數
packageName String