CountTestCasesCollector

public class CountTestCasesCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
   ↳ com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
     ↳ com.android.tradefed.device.metric.CountTestCasesCollector


計算並回報指定 IRemoteTest 的測試案例數量。

摘要

公用建構函式

CountTestCasesCollector()
CountTestCasesCollector(IRemoteTest test)

公用方法

void onTestEnd(DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

測試案例結束時的回呼。

void onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test)

測試案例失敗時的回呼。

void onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

測試作業結束時的回呼。

void setTestType(IRemoteTest test)

公用建構函式

CountTestCasesCollector

public CountTestCasesCollector ()

CountTestCasesCollector

public CountTestCasesCollector (IRemoteTest test)

參數
test IRemoteTest

公用方法

onTestEnd

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

測試案例結束時的回呼。這時應進行清理。

參數
testData DeviceMetricData:保存測試案例資料的 DeviceMetricData。與 onTestStart(DeviceMetricData) 期間的物件相同。

currentTestCaseMetrics Map:傳遞至 testEnded(TestDescription,Map) 的指標目前對應。

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試案例失敗時的回呼。

參數
testData DeviceMetricData:保存測試案例資料的 DeviceMetricData

test TestDescription:進行中測試案例的 TestDescription

擲回
DeviceNotAvailableException

onTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

測試作業結束時的回呼。這時應進行清理。

參數
runData DeviceMetricDataDeviceMetricData,其中包含執行作業的資料。與 onTestRunStart(DeviceMetricData) 期間的物件相同。

currentRunMetrics Map:傳遞至 testRunEnded(long,Map) 的指標目前對應。

setTestType

public void setTestType (IRemoteTest test)

參數
test IRemoteTest