BugreportzOnTestCaseFailureCollector

public class BugreportzOnTestCaseFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
↳	com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
	↳	com.android.tradefed.device.metric.BugreportzOnTestCaseFailureCollector

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在執行測試案例時，如果發生失敗情形，請收集錯誤報告。

摘要

公用建構函式
BugreportzOnTestCaseFailureCollector()

公用方法
void	onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test) 測試案例失敗時的回呼。
void	onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics) 測試作業結束時的回呼。
void	onTestRunStart(DeviceMetricData runData) 測試執行開始時的回呼。

公用建構函式

BugreportzOnTestCaseFailureCollector

public BugreportzOnTestCaseFailureCollector ()

公用方法

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

測試案例失敗時的回呼。

參數
testData	DeviceMetricData：保存測試案例資料的 DeviceMetricData。
test	TestDescription：進行中測試案例的 TestDescription。

onTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

測試作業結束時的回呼。這時應進行清理。

參數
runData	DeviceMetricData：DeviceMetricData，其中包含執行作業的資料。與 onTestRunStart(DeviceMetricData) 期間的物件相同。
currentRunMetrics	Map：傳遞至 testRunEnded(long,Map) 的指標目前對應。

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

測試執行開始時的回呼。

參數
runData	DeviceMetricData：DeviceMetricData，其中包含執行作業的資料。