LogcatTimingMetricCollector

public class LogcatTimingMetricCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
com.android.tradefed.device.metric.LogcatTimingMetricCollector


一种度量收集器,通过使用给定的正则表达式模式从 logcat 行解析事件的开始和结束信号,在一个或多个重复测试期间从 logcat 收集计时信息(例如用户切换时间)。

概括

公共构造函数

LogcatTimingMetricCollector ()

公共方法

void onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics) onTestEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)

测试用例结束时的回调。

void onTestFail ( DeviceMetricData testData, TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

void onTestRunEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics) onTestRunEnd ( DeviceMetricData testData, currentTestCaseMetrics)

测试运行结束时的回调。

void onTestRunStart ( DeviceMetricData testData)

测试运行开始时的回调。

void onTestStart ( DeviceMetricData testData)

测试用例启动时的回调。

公共构造函数

LogcatTimingMetricCollector

public LogcatTimingMetricCollector ()

公共方法

测试结束时

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics)

测试用例结束时的回调。这应该是清理的时间。

参数
testData DeviceMetricData :保存测试用例数据的DeviceMetricData 。将与onTestStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期间的对象相同。

currentTestCaseMetrics :传递给ERROR(/#testEnded(com.android.tradefed.result.TestDescription,Map))的当前指标映射。

测试失败时

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

测试用例失败时的回调。

参数
testData DeviceMetricData :保存测试用例数据的DeviceMetricData

test TestDescription :正在进行的测试用例的TestDescription

测试运行结束时

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData testData, 
                 currentTestCaseMetrics)

测试运行结束时的回调。这应该是清理的时间。

参数
testData DeviceMetricData :保存运行数据的DeviceMetricData 。将与onTestRunStart(com.android.tradefed.device.metric.DeviceMetricData)期间的对象相同。

currentTestCaseMetrics :传递给ERROR(/#testRunEnded(long,Map))的当前指标映射。

测试运行开始时

public void onTestRunStart (DeviceMetricData testData)

测试运行开始时的回调。

参数
testData DeviceMetricData :保存运行数据的DeviceMetricData

投掷
DeviceNotAvailableException

测试开始时

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

测试用例启动时的回调。

参数
testData DeviceMetricData :保存测试用例数据的DeviceMetricData

投掷
DeviceNotAvailableException