LogcatOnFailureCollector

public class LogcatOnFailureCollector
extends BaseDeviceMetricCollector

java.lang.Object
↳	com.android.tradefed.device.metric.BaseDeviceMetricCollector
	↳	com.android.tradefed.device.metric.LogcatOnFailureCollector

Znane bezpośrednie podklasy ModuleLogcatCollector ModuleLogcatCollector Wersja narzędzia do zbierania logcat, ale dla modułu.

---

Kolektor, który rejestruje i zapisuje dziennik logcat, gdy przypadek testowy lub przebieg testu zakończy się niepowodzeniem. Jeśli włączone jest domyślne zbieranie danych, będą zbierane logi hosta na określonych poziomach.

Podsumowanie

Konstruktory publiczne
LogcatOnFailureCollector()

Metody publiczne
boolean	captureModuleLevel()
void	onTestEnd(DeviceMetricData testData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics) Wywołanie zwrotne po zakończeniu elementu testowania.
void	onTestFail(DeviceMetricData testData, TestDescription test) Wywołanie zwrotne, gdy test się nie powiedzie.
void	onTestModuleEnded() Umożliwia rejestrowanie zdarzenia zakończenia modułu.
void	onTestModuleStarted() Umożliwia rejestrowanie zdarzenia rozpoczęcia modułu.
void	onTestRunEnd(DeviceMetricData runData, Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics) Wywołanie zwrotne po zakończeniu sesji testowej.
void	onTestRunFailed(DeviceMetricData testData, FailureDescription failure) Wywołanie zwrotne w przypadku zdarzeń testRunFailed
void	onTestRunStart(DeviceMetricData runData) Wywołanie zwrotne po rozpoczęciu sesji testowej.
void	onTestRunStartBlocking()
void	onTestStart(DeviceMetricData testData) Wywołanie zwrotne po rozpoczęciu elementu testowania.

Metody chronione
void	collectAndLog(String testName, int size, IMetricCollector.MetricCollectionLevel level)

Konstruktory publiczne

LogcatOnFailureCollector

public LogcatOnFailureCollector ()

Metody publiczne

captureModuleLevel

public boolean captureModuleLevel ()

Zwraca
boolean

onTestEnd

public void onTestEnd (DeviceMetricData testData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentTestCaseMetrics)

Wywołanie zwrotne po zakończeniu elementu testowania. To powinien być czas na zwalnianie miejsca.

Parametry
testData	DeviceMetricData: DeviceMetricData zawierający dane elementu testowania. Będzie to ten sam obiekt co podczas onTestStart(DeviceMetricData).
currentTestCaseMetrics	Map: bieżąca mapa danych przekazywanych do testEnded(TestDescription,Map).

Zgłasza
DeviceNotAvailableException

onTestFail

public void onTestFail (DeviceMetricData testData, 
                TestDescription test)

Wywołanie zwrotne, gdy test się nie powiedzie.

Parametry
testData	DeviceMetricData: DeviceMetricData zawierający dane elementu testowania.
test	TestDescription: TestDescription elementu testowania w trakcie wykonywania.

Zgłasza
DeviceNotAvailableException

onTestModuleEnded

public void onTestModuleEnded ()

Umożliwia rejestrowanie zdarzenia zakończenia modułu.

Zgłasza
DeviceNotAvailableException

onTestModuleStarted

public void onTestModuleStarted ()

Umożliwia rejestrowanie zdarzenia rozpoczęcia modułu.

Zgłasza
DeviceNotAvailableException

onTestRunEnd

public void onTestRunEnd (DeviceMetricData runData, 
                Map<String, MetricMeasurement.Metric> currentRunMetrics)

Wywołanie zwrotne po zakończeniu sesji testowej. To powinien być czas na zwalnianie miejsca.

Parametry
runData	DeviceMetricData: DeviceMetricData zawierający dane dotyczące uruchomienia. Będzie to ten sam obiekt co podczas onTestRunStart(DeviceMetricData).
currentRunMetrics	Map: bieżąca mapa danych przekazywanych do testRunEnded(long,Map).

Zgłasza
DeviceNotAvailableException

onTestRunFailed

public void onTestRunFailed (DeviceMetricData testData, 
                FailureDescription failure)

Wywołanie zwrotne w przypadku zdarzeń testRunFailed

Zgłasza
DeviceNotAvailableException

onTestRunStart

public void onTestRunStart (DeviceMetricData runData)

Wywołanie zwrotne po rozpoczęciu sesji testowej.

Parametry
runData	DeviceMetricData: DeviceMetricData zawierający dane dotyczące uruchomienia.

onTestRunStartBlocking

public void onTestRunStartBlocking ()

Zgłasza
DeviceNotAvailableException

onTestStart

public void onTestStart (DeviceMetricData testData)

Wywołanie zwrotne po rozpoczęciu elementu testowania.

Parametry
testData	DeviceMetricData: DeviceMetricData zawierający dane elementu testowania.

Metody chronione

collectAndLog

protected void collectAndLog (String testName, 
                int size, 
                IMetricCollector.MetricCollectionLevel level)

Parametry
testName	String
size	int
level	IMetricCollector.MetricCollectionLevel

Zgłasza
DeviceNotAvailableException