用于 HAL 测试的参数化 gtest

对于一个 HAL 接口,可能有多个实现。要测试 HAL 实现的每个实例,标准方法是编写一个值参数化的 gtest

基本测试设置

gtest 必须继承基类testing::TestWithParam ,其中参数是每个实例的名称。在SetUp方法中,可以根据实例名称实例化服务,如下面的代码片段所示。

// The main test class for the USB hidl HAL
class UsbHidlTest : public testing::TestWithParam<std::string> {

 virtual void SetUp() override {
   usb = IUsb::getService(GetParam());
   ASSERT_NE(usb, nullptr);
...
 }

对于每种测试方法,使用宏TEST_P ,如下例所示。

TEST_P(UsbHidlTest, setCallback) {
...
}

使用宏INSTANTIATE_TEST_SUITE_P实例化套件,如下例所示。

INSTANTIATE_TEST_SUITE_P(
       PerInstance, UsbHidlTest,
       testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IUsb::descriptor)),
       android::hardware::PrintInstanceNameToString);

论据是:

  1. InstantiationName ,可以是与您的测试匹配的任何内容。 PerInstance是一个通用名称。

  2. 测试类名称。

  3. 实例名称的集合,可以从内置方法中检索,例如getAllHalInstanceNames

  4. 打印测试方法名称的方法。 PrintInstanceNameToString是一个内置名称,可用于根据实例名称和测试方法名称编译测试名称。

使用多个输入进行测试

gtest 支持用于值参数化测试的元组。当 HAL 测试需要使用多个输入进行测试时(例如,具有多个接口的测试),您可以编写一个以tuple作为测试参数的 gtest。完整的代码可以在VtsHalGraphicsMapperV2_1TargetTest中找到。

相比于单一测试参数的 gtest,本次测试需要使用tuple作为测试参数,如下例所示。

class GraphicsMapperHidlTest
   : public ::testing::TestWithParam<std::tuple<std::string, std::string>> {
 protected:
   void SetUp() override {
       ASSERT_NO_FATAL_FAILURE(mGralloc = std::make_unique<Gralloc>(std::get<0>(GetParam()),
                                                                    std::get<1>(GetParam())));
…
}

如果需要更复杂的参数,建议使用结构体和自定义 gtest ToString函数。

为了实例化测试套件,还使用了宏INSTANTIATE\_TEST\_CASE\_P ,但有两个不同之处:

  • 第三个参数是元组的集合(相对于基本情况下的字符串集合)。
  • 编译测试名称的方法需要支持tuple 。您可以使用内置方法PrintInstanceTupleNameToString ,它可以处理字符串元组,如下例所示。
INSTANTIATE_TEST_CASE_P(
       PerInstance, GraphicsMapperHidlTest,
       testing::Combine(
               testing::ValuesIn(
                       android::hardware::getAllHalInstanceNames(IAllocator::descriptor)),
           testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IMapper::descriptor))),
       android::hardware::PrintInstanceTupleNameToString<>);